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XGT X射線分析顯微鏡是能量色散型X射線熒光分析儀，可以快速、無(wú)損地分析待測(cè)樣品的元素組成。不*可以分析10 μm的微小區(qū)域；還可以自動(dòng)掃描樣品，掃描區(qū)域可達(dá)10cm X 10cm。 沒(méi)有什么技術(shù)可以如此簡(jiǎn)單的獲得如此多的信息。**需要點(diǎn)擊感興趣區(qū)域，就可以開始測(cè)量。并可以獲得光學(xué)圖像和元素面分布圖的完美結(jié)合的測(cè)量結(jié)果。
**一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析完美地結(jié)合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。
SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計(jì)數(shù)率的測(cè)量，且無(wú)需液氮。
雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏度。
獨(dú)特的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線導(dǎo)管在10 μm和1.2 mm間切換，以保證獲得**測(cè)量條件，無(wú)論是微觀到宏觀。
與x射線導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī)，可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。
單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析
單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無(wú)論是從單個(gè)分析位置或是用戶定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖。
可自動(dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線法定量計(jì)算，**可測(cè)量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或μm級(jí)樣品的多層膜厚。
高光譜面掃描
SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后，用戶可以根據(jù)自己的分析，添加或刪除某個(gè)元素面分布圖，實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。
X射線透射圖像有利于用戶觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造，實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損內(nèi)部觀測(cè)。
有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用：電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。
XGT-7200的靈活設(shè)計(jì)，保證用戶通過(guò)簡(jiǎn)易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果，無(wú)論是分析大區(qū)域，還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析，或是同時(shí)采集X射線熒光圖像和X射線透過(guò)像。
HORIBA獨(dú)特的X射線光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析，X射線光斑直徑小到10微米。這種**強(qiáng)度的超細(xì)光斑，可進(jìn)行快速無(wú)損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。
同時(shí)采集XRF圖像和X射線透過(guò)像的功能，可以用來(lái)分析無(wú)法用肉眼觀察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線束，即使觀察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。
獨(dú)特的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。
界面友好的操作軟件允許用戶方便的控制硬件、選擇測(cè)量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括：自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測(cè)量、RGB圖像合成，線分析等。
大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能，用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測(cè)量大至10cm x 10cm的區(qū)域。
地址：上海市寶山區(qū)水產(chǎn)路1269號(hào)東樓209
電話：021-56153860
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